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  • LODAS™ – CI8化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置

    LODAS™ – CI8是列真株式會社推出的一款化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置。

    更新時間:2023-11-22
    型號:LODAS™ – CI8
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:360
  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統

    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統是表面缺陷檢測的蕞完善的國產化替代產品,系統包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數據:晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模塊;輪廓、量測和檢查模塊;

    更新時間:2023-12-04
    型號:
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:44
  • iFocus晶圓檢測系統

    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設備,利用STI的2D/3D視覺檢測系統,采用雙2D Camera同時采集亮區和暗區照片分析特征缺陷;True 3D技術,可以精確量測Bumping高度,Bumping共面性等特征??蛇m用于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等產品外觀檢測。

    更新時間:2023-12-01
    型號:
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:50
  • LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置

    LODAS™ – LI系列是列真株式會社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。

    更新時間:2023-11-22
    型號:LODAS™ – LI系列
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:378
  • LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

    更新時間:2023-11-22
    型號:LODAS™ – BI12
    廠商性質:代理商
    瀏覽量:316
  • LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置

    LODAS™ – BI8是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。

    更新時間:2023-11-22
    型號:LODAS™ – BI8
    廠商性質:代理商
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